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SFT9400系列 X射线荧光镀层厚度测量仪
SFT9000系列里最好的机型“SFT9455”,搭载
75W高速X射线管和双重检验装置(半导体检验装
置十比例计数管)。适用“薄膜”、“金属
膜”、“极微小部分测定”等所有镀膜膜厚测
定要求的高性能膜厚测量仪器。而且
“SFT9455”在镀膜厚度测量功能的基础上还可
以用作异物定性分析和材料成分分析。