产品信息
    基恩士超深度彩色3D形状测量显微镜VK-9510K
    价格:870 元(人民币) 产地:日本
    最少起订量: 发货地:东莞
    上架时间:2022/3/30 浏览量:411
    东莞市景瀚实业有限公司
    经营模式:贸易公司 公司类型:私营有限责任公司
    所属行业:电子产品制造设备 主要客户:OEM代工厂,电子产

    联系方式

    联系人:徐辉鹏 (先生)

    手机:

    电话:

    传真:

    邮箱:wilson_xu@dgwiden.com

    地址:东莞市大岭山镇矮岭冚村莞长路136号远景科技园

    详情介绍

    型号

    VK-9510K

    类型

    控制器

    综合倍率

    28,800 倍以下*1

    视野 (最小视野范围)

    11 μm 至 7,398 μm

    帧率 (激光测量速度)

    4 至 125 Hz、7,900 Hz*2

    测量原理

    光学系统

    针孔共聚焦光学系统、变焦

     

    光接收元件

    16 bit 感应光电倍增器、超高精细彩色CMOS

     

    扫描方式
    (常规测量时及图像拼接时)

    自动上下限设定功能、高速光量化功能 (AAGII)、反射光量不足补充功能 (双扫描)

    高量

    显示分辨率

    0.5 nm (VK-X1100)、5 nm (VK-X1050)

     

    线性标尺

     

     

    动态量程
    (来自工件的光接收量的适用幅度)

    16 bit

     

    重复精度σ

    激光共聚焦

    20 倍 : 40 nm、50 倍 : 12 nm (VK-X1100)
    20 倍 : 40 nm、50 倍 : 20 nm (VK-X1050)

     

     

    变焦

    5 倍 : 500 nm、10 倍 : 100 nm、20 倍 : 50 nm、50 倍 : 20 nm (VK-X1100)
    5 倍 : 500 nm、10 倍 : 100 nm、20 倍 : 50 nm、50 倍 : 30 nm (VK-X1050)

     

    高度数据获取范围

    70 万步骤

     

    准确性

    0.2 + L/100 μm 或更小 (L = 测量长度 μm)*3

    宽度测量

    显示分辨率

    1 nm (VK-X1100)、10 nm (VK-X1050)

     

    重复精度 3σ

    激光共聚焦

    20 倍 : 100 nm、50 倍 : 40 nm (VK-X1100)
    20 倍 : 100 nm、50 倍 : 50 nm (VK-X1050)

     

     

    变焦

    5 倍 : 400 nm、10 倍 : 400 nm、20 倍 : 120 nm、50 倍 : 50 nm (VK-X1100)
    5 倍 : 400 nm、10 倍 : 400 nm、20 倍 : 120 nm、50 倍 : 65 nm (VK-X1050)

     

    准确性

    测量值±2 % 以内*3

    XY 载物台结构

    手动 运行范围

    70 mm x 70 mm

     

    电动 运行范围

    100 mm x 100 mm

    观察

    观察图像

    超高精细彩色CMOS 图像、16 bit 激光彩色共焦点图像、共焦点 + ND 滤波器光学系统、C - 激光微分干涉图像

     

    照明

    环状照明、同轴落射照明

    测量用激光光源

    波长

    紫色半导体激光 404 nm (VK-X1100)
    红色半导体激光 661 nm (VK-X1050)

     

    输出

    1 mW

     

    激光产品

    2 类激光产品 (GB7247.1)

    电源

    电源电压

    100 至 240 VAC、50/60 Hz

     

    消耗电流

    150 VA

    重量

    约 3.0 kg

    *1 23 寸显示器画面上的倍率 (全屏显示器时)。
    *2 测量模式/测量品质/镜头倍率的组合中、取最快的一组组合时。线扫描的情况下、测量间距小于 0.1 μm 时。
    *3 使用 20 倍以上的镜头测量标准样品 (标准刻度) 时。



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