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产品参数 | |||
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品牌 | ANDK | ||
包装 | 盒装 | ||
零件状态 | 在售 | ||
安装类型 | 卡入式 | ||
特性 | MCU BGA324功能测试 | ||
材料 | PEEK BeCu AL | ||
其他集成电路 | 324 | ||
产地 | 中国大陆 | ||
适用场景 | 对BGA芯片进行性能测试,老化,筛选测试 | ||
封装 | BGA封装 | ||
引脚数 | 324个 | ||
测试座类型 | 翻盖式 | ||
引脚间距 | 1.0mm | ||
芯片间距 | 1.0 | ||
数量 | 1 | ||
批号 | 以出货为准 | ||
可售卖地 | 全国 | ||
型号 | BGA324-1.0翻盖探针测试座带散热块 |